-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱,三箱法高低溫沖擊箱1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn) 3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱,三箱法高低溫沖擊箱
機(jī)型 :JS-CJ100/10
內(nèi)箱容積:50/80/100/150L,可定制
測(cè)試環(huán)境條件: 環(huán)境溫度為+25℃、試驗(yàn)箱內(nèi)無(wú)試樣條件下
測(cè)試方法: GB/T 5170.2-1996 溫度試驗(yàn)設(shè)備
高溫室:
預(yù)溫度范圍 :RT~+200℃
升溫時(shí)間 :RT+10℃→+200℃ ≤40min
低溫室:
預(yù)冷溫度范圍: RT~-100℃
降溫時(shí)間: RT → -100℃≤60min
試驗(yàn)室(試樣區(qū))
試驗(yàn)方式 :氣動(dòng)風(fēng)門切換
3 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件(高溫-常溫-低溫)
2 溫區(qū)沖擊試驗(yàn)條件(高溫-低溫)
溫度沖擊范圍: -65℃~ +150℃
溫度波動(dòng)度: ±0.5℃
溫度偏差: ±2.0℃
溫度恢復(fù)時(shí)間: ≤5min
恢復(fù)條件試樣:塑料封裝集成電路(均布)
傳感器位置:試樣的上風(fēng)側(cè)
高溫曝露: RT~+150℃:≥30分鐘
環(huán)境溫度曝露:常溫
低溫曝露: RT~-65℃:≥30分鐘
試樣重量:4.5kg(如需要放置重的試樣,請(qǐng)?zhí)崆案嬷?/span>
制冷方式:水冷
-65度三箱沖擊試驗(yàn)箱,三箱法高低溫沖擊箱控制器:
種類: 觸摸智能式溫度控制器
顯示器: 彩色觸摸式液晶顯示
運(yùn)行方式: 程序方式
設(shè)定方式:全中文液晶顯示(中英文可切換)LCD觸摸式面板(耐100.000次畫(huà)線試驗(yàn))
程序容量: 可使用的程序量:最大 120 組,1 個(gè)程序可由 1~99 段次組合而成;
可使用的記憶容量: 1200 段,可重復(fù)執(zhí)行命令:每一個(gè)命令可達(dá) 999 次,程序斜率設(shè)定可由時(shí)間軸來(lái)設(shè)定,程序間可設(shè)定聯(lián)結(jié)使用,程序之制作采用對(duì)談式,操作簡(jiǎn)單具有編輯,清除,插入等功能,4 組時(shí)間信號(hào)輸出控制(可控制待測(cè)物 ON/OFF 動(dòng)作)具有 9 組 PID 參數(shù)設(shè)定,程序執(zhí)行中具有跳段,保持功能,可顯示曲線,數(shù)據(jù)采集;日期、時(shí)間調(diào)整功能;按鍵及畫(huà)面鎖定(LOCK)功能,可連接計(jì)算機(jī)。
顯示分辨率: 溫度分辨:0.1℃;時(shí)間分辨:0.1min
溫度輸入 :PT100
控制方式: 抗積分飽和PID,BTC平衡調(diào)溫控制方式
曲線記錄功能: 程序執(zhí)行時(shí)可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線
附屬功能 :具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能,具有日期,時(shí)間調(diào)整,預(yù)約啟動(dòng),關(guān)機(jī)功及畫(huà)面鎖定(LOCK)功能。
三箱法高低溫沖擊箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件